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特性測(cè)試 致力于提供可滿足客戶需求的高品質(zhì)和可靠半導(dǎo)體解決方案
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質(zhì)量保證
實(shí)驗(yàn)室能力
特性測(cè)試

質(zhì)量保證

  • 服務(wù)質(zhì)量
  • 認(rèn)證和標(biāo)準(zhǔn)
  • 實(shí)驗(yàn)室能力
  • 社會(huì)責(zé)任

    • 特性測(cè)試

    電子器件的特性測(cè)試主要是測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等；
    根據(jù)元器件的規(guī)格書(shū)測(cè)試基本參數(shù)，如三極管，要測(cè)試ICBO、VCEO、VCES、HFE等項(xiàng)目
    測(cè)試項(xiàng)目 檢測(cè)設(shè)備
    雷擊浪涌電流測(cè)試 雷擊浪涌電流發(fā)生器
    雷擊浪涌電壓測(cè)試 雷擊浪涌電壓發(fā)生器
    雪崩測(cè)試 雪崩能量測(cè)試系統(tǒng) (ITC55100)
    熱阻測(cè)試 熱阻測(cè)試系統(tǒng) (Phase 12)
    MOSFET / IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試 雪崩能量測(cè)試系統(tǒng) (ITC57300)
    MOSFET / IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) (DTS1000)

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